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.HP-OW光學(xué)測頭：應(yīng)用白光共聚焦技術(shù)，可針對各種表面工件進(jìn)行高精度的非接觸測量。
HP-OW測量范圍為幾毫米，同時實(shí)現(xiàn)納米級的分辨率。±30°的大測量角度，使其適用于更多應(yīng)用，從微小特征到大面積測量。通過應(yīng)用HR-R自動更換架，可實(shí)現(xiàn)與其它不同測頭的自動更換。
HP-OW測頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型號，可根據(jù)測量應(yīng)用選擇不同的測量范圍、工作距離等。