.HP-OW光學(xué)測頭:應(yīng)用白光共聚焦技術(shù),可針對各種表面工件進(jìn)行高精度的非接觸測量。
HP-OW測量范圍為幾毫米,同時實(shí)現(xiàn)納米級的分辨率。±30°的大測量角度,使其適用于更多應(yīng)用,從微小特征到大面積測量。通過應(yīng)用HR-R自動更換架,可實(shí)現(xiàn)與其它不同測頭的自動更換。
HP-OW測頭有HP-OW-2.14和HP-OW-2.61兩種型號,可根據(jù)測量應(yīng)用選擇不同的測量范圍、工作距離等。